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400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀?采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析。

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半自動四探針觸屏測試儀：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件.

半自動四探針觸屏測試儀：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件。

半自動觸屏四探針測試儀：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件.

全自動四探針電阻測試儀，全自動化運行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻；可設定探針壓力值、測試點數(shù)、多種測量模式選擇,可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標準校準電阻件;報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析