磁阻法測厚儀  非導磁覆蓋層厚測定儀

型號：LT/HCC-24

北京磁阻法測厚儀可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應用，使本儀器具有操作簡 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量精度高的優(yōu)點。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計功能，可直接顯示測量的平均值、zui大值、zui小 值、標準偏差及測量次數(shù)等統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

北京磁阻法測厚儀采用電磁感應原理進行測量，符合標準 ISO2178和國家標準GB4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探頭和磁性基體構成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量，經電腦進行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測量值

技術參數(shù)

1）測量范圍： 0μm～1200μm。

2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測涂層厚 度。

3）分 辨 率： 1μm。

4） 小測量面的直徑： φ10 mm。

5）顯 示： 4位LCD顯示測量的平均值、zui大值、zui小值、標準偏差和測量次數(shù)，同時指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6） 電 源：一節(jié)6F22型9V電池。

7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。

8） 質 量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。

可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應用，使本儀器具有操作簡 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量精度高的優(yōu)點。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計功能，可直接顯示測量的平均值、zui大值、zui小 值、標準偏差及測量次數(shù)等統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

采用電磁感應原理進行測量，符合標準 ISO2178和國家標準GB4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探頭和磁性基體構成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量，經電腦進行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測量值

技術參數(shù)

1）測量范圍： 0μm～1200μm。

2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測涂層厚 度。

3）分 辨 率： 1μm。

4）zui小測量面的直徑： φ10 mm。

5）顯 示： 4位LCD顯示測量的平均值、zui大值、zui小值、標準偏差和測量次數(shù)，同時指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6） 電 源：一節(jié)6F22型9V電池。

7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。

8） 質 量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。